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    镀层厚度检测仪Thick800A

    镀层厚度检测仪Thick800A

    简要描述:

    镀层厚度检测仪Thick800A:X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

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    • 企业类型:制造商
    • 新旧程度:
    • 原产地:江苏昆山

    镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。镀层测厚仪采用磁性测厚方法,可无损伤检测磁性金属基体(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。

     

    镀层测厚仪的工作原理:

    镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。

    镀层测厚仪的优点介绍:

    1. 测量速度快

    2. 精度高精度,可达到1-2%

    3. 稳定性高

    4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法

    5、覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

    6、X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

     

    镀层厚度检测仪Thick800A性能特点
    满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
    φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
    高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
    采用高度定位激光,可自动定位测试高度
    定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
    鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
    高分辨率探头使分析结果更加精准
    良好的射线屏蔽作用
    测试口高度敏感性传感器保护
    技术指标
    型号:Thick 800A
    元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
    同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
    分析含量一般为ppm到99.9% 。
    镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多变量非线性回收程序
    度适应范围为15℃至30℃。
    电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
    外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
    样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
    重量:90kg
    镀层厚度检测仪Thick800A标准配置
    开放式样品腔。
    精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
    双激光定位装置。
    铅玻璃屏蔽罩。
    Si-Pin探测器。
    信号检测电子电路。
    高低压电源。
    X光管。
    高度传感器
    保护传感器
    计算机及喷墨打印机
    应用领域
    黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
    金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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