电镀测厚仪在进行镀层厚度测量时，可采用两种不同方法，一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度，称为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度，称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。镀层厚度测量时，测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系，并做出标准曲线。

　　然后再测量未知样品的荧光X射线强度，得到其镀层厚度。但是需注意的是，荧光X射线法是从得到的荧光X射线的强度来求得单位面积的元素附着量，再除以元素的密度来算出其厚度。所以，对于含有杂质或多孔质蒸镀层等与纯物质不同密度的样品，需要进行修正。

　　电镀测厚仪的优势特点都有哪些？

　　1、可采用手动、自动双重测量模式，更方便客户选择；

　　2、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制；

　　3、测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差；

　　4、打印值、小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据；

　　5、配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果；

　　6、采用进口高精度传感器，保证了测试精度；配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；

　　7、仪器自动保存多100组测试结果，随时查看并打印；

　　8、标准量块标定,方便用户快速标定设备；采用专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；

　　9、电镀测厚仪配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；